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【6h】

电大尺寸目标的高频方法电磁散射特性分析及快速成像技术研究

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摘要

1绪论

1.1研究背景及意义

1.2国内外研究概况

1.3本文内容的结构安排

2高频方法基本理论

2.1引言

2.2雷达散射截面

2.3物理光学法

2.3.1物理光学方法基本原理

2.3.2遮挡判断

2.4弹跳射线法

2.4.1射线路径追踪

2.4.2射线场强追踪

2.4.3远场积分

2.5本章小结

3电大尺寸金属介质混合目标的高频方法分析

3.1引言

3.2均匀介质涂覆金属目标的电磁散射特性

3.2.1介质涂覆目标的PO方法

3.2.2多层介质涂覆的广义反射系数

3.2.3数值算例分析

3.3非均匀介质金属混合目标的电磁散射特性

3.3.1电磁波在有耗媒质中的射线传播理论

3.3.2有耗媒质中的射线场强追踪

3.3.3金属介质混合目标的SBR计算过程

3.4数值算例分析

3.5本章小结

4电大尺寸目标高频方法快速成像

4.1引言

4.2基于高频方法回波的ISAR成像

4.2.1二维ISAR成像原理

4.2.2数值算例分析

4.3基于SBR的二维ISAR成像

4.3.1 SBR成像原理

4.3.2数值算例分析

4.4 SBR快速成像技术研究

4.4.1射线成像公式改进

4.4.2基于GPU并行的快速射线追踪

4.4.3数值算例分析

4.5本章小结

5结论与研究展望

5.1全文总结

5.2研究展望

致谢

参考文献

附录

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摘要

随着通信技术的发展,各类电子通信设备在功能上和结构上都更加多样化,电磁波频谱的需求也日益剧增,且工作频率也向着更高的频率扩展。基于局部性近似且不考虑目标之间相互耦合作用的高频方法是分析电大目标的电磁散射特性的主要手段。 首先,本文对高频方法中常用的物理光学方法和弹跳射线方法的基本原理进行了论述,其次使用这两种方法对具有单次和多次反射结构的电大金属目标的雷达散射截面进行了研究。在此基础上,研究了高频方法在金属和介质混合目标主要是金属表面覆盖介质情况的电磁散射特性分析中的应用。对于多层均匀薄介质涂覆的情况,利用广义反射系数求解介质表面反射总场,再利用物理光学方法即可求出多层介质涂覆目标的雷达散射截面。当金属表面涂覆不均匀厚度介质以及非均匀介质目标时,提出了一种基于四面体剖分的弹跳射线方法,该方法除了考虑射线在目标表面的多次反射之外,还考虑了透射射线在介质内部的传播,最后求出目标总的散射场。通过一组算例对该方法的正确性进行了验证,拓展了弹跳射线方法在实际工程中的适用性。 另外,还研究了高频方法在逆合成孔径雷达(ISAR)成像中的应用,分析了目标的远区散射场与其形状函数之间的关系。针对传统的成像过程中计算电大尺寸目标在一定频带和角度下的单站散射场的耗时问题,应用弹跳射线方法在小角度、双站近似以及解析成像公式下对目标进行ISAR成像。通过对算例进行仿真对比,验证了该成像方法的正确性,相较于传统的成像方式该方法具有更快的成像速度。

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