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第一章绪论
1.1课题研究的目的和意义
1.2国内外研究概况
1.3容错技术的现状
1.3.1硬件冗余现状
1.3.2软件冗余现状
1.3.3信息冗余现状
1.3.4时间冗余现状
1.4论文的主要研究内容
第二章自检测设计
2.1可靠性的基本概念
2.1.1可靠性、故障率与平均失效时间
2.1.2可保持性和可用性
2.2故障容错技术
2.2.1故障和故障模型
2.2.2故障容错技术
2.3编码检错技术
2.4电路的故障安全性和自检系统
2.5几种常见的自检系统
2.5.1功能块的重复使用
2.5.2奇偶校验码
2.5.3汉明编码
2.6本章小结
第三章Bose-Lin码原理和检测器的设计
3.1 Bose-Lin码原理介绍
3.2 Bose-Lin码的全自检系统检测器的设计
3.2.1 CCG的设计
3.2.2 1的个数取m模数的生成器设计
3.3全加器的设计
3.3.1加法器的基本原理和结构介绍
3.3.2半加器(HA，Half Adder)
3.3.3全加器(FA，Full Adder)
3.3.4进位传播加法器(CPA，Carry-Propagate Adders)
3.3.5加法器的延时分析
3.4 Bose-Lin码编码器延时分析
3.5本章小结
第四章TRC结构及设计
4.1数值比较器的基本原理
4.1.1 1位数值比较器
4.1.2多位数值比较器
4.2 TRC(Two-rail code checker)
4.2.1 TRC2的基本结构
4.2.2一种高速的TRC
4.3全自检系统的TRC设计
4.4本章小结
第五章基于Bose-Lin码的自检测设计应用
5.1 QuartusⅡ 6.0简介
5.2基于Bose-Lin码的自检测设计
5.2.1功能模块的设计
5.2.2全自检检测器的设计
5.3纠错功能的设计
5.4本章小结
第六章基于Bose-Lin码的全自检系统ASIC设计
6.1 Bose-Lin码编译码器芯片设计过程
6.2逻辑综合
6.3自动布局布线
6.4版图验证
6.5本章小节
第七章总结与展望
7.1结论
7.2展望
参考文献
作者在攻读硕士学位期间公开发表的论文
作者在攻读硕士学位期间所作的项目
致 谢
