利用TE腔测量薄片材料复介电常数方法研究

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第一章绪论

1.1描写介质材料介电性能的常用参数

1.2介质测量常用方法

1.3薄片材料测量技术现状

1.3.1传输/反射测量技术

1.3.2谐振腔测量技术

1.3.3其它测量技术

1.4本文主要内容简介

第二章传统TE01p腔测量技术概述

2.1概述

2.1.1圆柱谐振腔一般理论

2.1.2 TE01p圆柱谐振腔一般理论

2.2复介电常数实部测量

2.3介质损耗测量

2.4传统 TE01p腔法测量薄片材料的困难

第三章测量薄片材料的TE01p腔改进技术

3.1概述

3.2复介电常数实部测量

3.3介质损耗测量

第四章实验数据及与仿真结果

4.1实验测量系统

4.2实验数据结果

4.3仿真数据与实验数据比较

第五章不确定度讨论

5.1二层介质测量复介电常数实部的不确定度

5.1.1概述

5.1.2不确定度公式

5.1.3不确定度变化图

5.2三层介质测量复介电常数实部的不确定度

5.2.1概述

5.2.2不确定度公式

5.2.3不确定度变化图

5.3讨论

第六章结论

参考文献

作者在攻读学位期间公开发表的学术论文

致谢

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