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宽光谱绒面结构Mg和Ga共掺杂ZnO薄膜生长及应用研究

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第一章 前言

第一节 课题来源

第二节 研究背景

第三节 国内外研究现状及存在问题

第四节 论文的内容及组织结构

第二章 ZnO薄膜及硅基薄膜太阳电池应用基础

第一节 ZnO薄膜主要性质及制备

第二节 硅基薄膜太阳电池

第三节 ZnO薄膜沉积方法

第四节 ZnO薄膜及薄膜太阳电池性能表征

第五节 本章小结

第三章 HMGZO薄膜的微观结构、光电性能及应用

第一节 引言

第二节 H2流量对MGZO薄膜性能的影响

第三节 衬底温度对HMGZO薄膜性能的影响

第四节 Ga含量对Ga和Mg共掺杂HMGZO薄膜性能的影响

第五节 沉积方式对HMGZO薄膜结构及光电特性的影响

第六节 直接生长的HMGZO薄膜应用于硅薄膜太阳电池

第七节 本章小结

第四章 绒面结构HMGZO薄膜微观结构、光电性能及应用

第一节 引言

第二节 湿法腐蚀工艺参数对HMGZO薄膜腐蚀特性的影响

第三节 薄膜厚度对HMGZO薄膜腐蚀特性的影响

第四节 绒面玻璃对HMGZO薄膜光电特性的影响

第五节 绒面玻璃/HMGZO薄膜应用于硅薄膜太阳电池

第六节 本章小结

第五章 HMGZO基复合薄膜的特性研究

第一节 引言

第二节 Glass/ITO/HMGZO薄膜的性能研究

第三节 Glass/BZO/HMGZO薄膜的性能研究

第四节 Glass/HMGZO/BZO薄膜的性能研究

第五节 本章小结

第六章 总结与展望

第一节 主要内容总结

第二节 展望

参考文献

致谢

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摘要

透明导电氧化物(TCO)薄膜是硅基薄膜太阳电池的重要组成部分,其应在较宽的光谱范围(λ~320nm-1100nm)内具有较高的透过率,同时具有较低的电阻率和较高的光散射能力。氢化Ga和Mg共掺杂ZnO(HMGZO)薄膜,由于Mg的掺杂,有效地展宽了HMGZO薄膜的光学带隙(Eg),可达~3.66eV,而Ga和H的引入提高了薄膜电阻率,使得电阻率达到10-4Ωcm量级。据文献报道,获得的MGZO薄膜的表面较为平整,且光电性能仍有提升空间。本论文主要研究并优化获得了具有一定表面粗糙度的绒面结构 HMGZO薄膜,详细研究了薄膜的光电性能及光散射特性等,并将宽光谱绒面结构 HMGZO薄膜应用于硅基薄膜太阳电池。主要研究内容及结果如下:
  首先,研究并优化沉积参数(如:H2流量,衬底温度和Ga含量等),获得了具有一定表面粗糙度的HMGZO薄膜,并将优化的HMGZO薄膜应用于非晶硅太阳电池。H2能够调节薄膜的电学特性,较高的衬底温度和适当的厚度有助于提高薄膜表面粗糙度;采用衬底固定在整体辉光区域正上方的生长方式,可以提高HMGZO薄膜的结晶质量。在Ga和Mg含量分别为2.0wt%和4.0wt%,衬底温度为280℃,及 H2流量为4.0sccm时,采用衬底固定在整体辉光区域正上方的生长方式,获得了高质量的HMGZO薄膜:电阻率~8.89×10-4Ωcm,电子迁移率~20.9cm2/V·s,350nm-1100nm波长范围内平均透过率达82.3%,光学带隙Eg~3.87eV。将HMGZO薄膜应用于非晶硅薄膜电池,明显增加了电池短路电流密度,提高了电池效率。
  其次,直接生长获得的 HMGZO薄膜表面粗糙度较小,光散射能力较弱。为提高 HMGZO薄膜的绒度,我们采用了两种研究思路:1)采用稀盐酸(HCl)溶液对 HMGZO薄膜进行湿法刻蚀处理。主要研究了腐蚀时间、腐蚀剂浓度和薄膜厚度等参数对薄膜表面腐蚀特性的影响,在HCl浓度为0.1%,腐蚀时间为75s时,HMGZO薄膜在波长λ~800nm处的Haze值达到了37.88%,方块电阻为17.61Ω;2)采用蒙砂刻蚀法对平面玻璃(超白玻璃)表面进行湿法腐蚀处理,从而获得微米级尺寸弹坑状结构,其横向尺寸范围为~8至25μm。当抛光次数(x)为1时,玻璃的表面粗糙度(RMS roughness)达到409.0nm,在400nm-1100nm的波长范围内绒度(Haze)值~80%。在绒面玻璃上生长的 HMGZO薄膜有效保持了玻璃的织构化特征,HMGZO/textured glass呈现出较高的绒度值。此外,将优化的绒面玻璃/HMGZO薄膜应用于非晶硅薄膜电池。相比于平面玻璃/HMGZO薄膜,绒面玻璃/HMGZO薄膜明显地提高了电池的光电转化效率,其中主要提高了短路电流密度(Jsc),这是由于其具有较高的光散射能力造成的。
  最后,为改善 HMGZO薄膜的晶粒尺寸和光散射特性,研究了多层结构薄膜 Glass/ITO(Sn掺杂 In2O3)/HMGZO、Glass/BZO(B掺杂 ZnO)/HMGZO及Glass/HMGZO/BZO的光电特性。ITO和 BZO缓冲层的加入有助于提高薄膜的晶粒尺寸及光散射特性,而BZO薄膜作为表面修饰层,对HMGZO薄膜的表面进行了结构修饰。当ITO缓冲层厚度为110.7nm时,薄膜的晶粒尺寸~500nm。

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