The University of Texas at Austin.;
机译:使用改进的FAN算法生成VLSI电路中串扰引起的延迟故障的测试
机译:使用改进的FAN算法生成VLSI电路中串扰引起的延迟故障的测试
机译:VLSI电路中逻辑串扰故障的测试模式生成
机译:数字VLSI电路中串扰故障的分析和测试方法
机译:测试生成和评估CMOS VLSI电路中的桥接故障。
机译:结合队列和案例控制研究的混合贝叶斯分层模型对诊断测试进行荟萃分析:考虑部分验证偏差
机译:使用改进的风扇算法在VLSI电路中进行串扰引起的延迟故障的测试