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面向最大串扰噪声的测试生成方法

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随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.本文提出了一种针对耦合多条侵略线的受害线上最大噪声的新测试方法。这种方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效的模型化故障并生成合适的向量。为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,我们先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解以得到测试向量。此外我们还将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,本文提出的技术能够适应于大电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.

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来源
《第五届中国测试学术会议》|2008年|1-6|共6页
会议地点苏州
作者

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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试、检验;
关键词
电路测试; 最大可满足问题; 特征尺寸; 串扰噪声; 噪声测试;

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