University of South Carolina.;
Atomic force microscopy; Electrostatic double layer; Stern potential; Surface potential;
机译:表面粗糙度和表面力测量:原子力显微镜和电泳迁移率测量得出的静电势的比较
机译:使用原子力显微镜在聚合物膜/电解质界面处的双层力的测量:浓度和电位依赖性相互作用
机译:使用原子力显微镜在液-固界面处双电层力距离测量的基本方面
机译:原子力显微镜静电纳米光刻(AFMEN):在极端静电电位下操纵薄聚合物膜
机译:用原子力显微镜测量静电双层电位
机译:使用原子力显微镜在液-固界面处双电层力距离测量的基本方面
机译:使用原子力显微镜测量电极/电解质界面处的双层力:电位和阴离子相关的相互作用