Texas A&M University - Kingsville.;
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机译:基于FinFET的6T SRAM单元设计:性能指标,工艺变化和温度效应分析
机译:基于7nm技术的基于不同FinFET器件的SRAM单元的性能稳定性分析
机译:基于纳米级FinFET的存储器单元的物理分析,建模和设计
机译:Ca分析:基于Excel的程序用于分析细胞内钙瞬变包括多个同时回归分析
机译:基于14个基于FinFET的6T SRAM细胞功能进行DC和瞬态电路分析的性能评估