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Production Quality for Process Capability with Multiple Characteristics on the Chip Resistor Production

机译:贴片电阻生产中具有多种特性的工艺能力的生产质量

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摘要

There are many journal papers about process capability indices with multiple characteristics in certain manufacturing assemblies including Cp, Cpk, Cpu, and Cpl. However, all of them assume the data is normal distribution and there is no product level process capability with an example chip resistor. This paper will discuss the affection of sample mean and standard deviations on process capability indices for multiple quality characteristics and its product assembly instead of assuming as normal distributions with the data from simulation. Furthermore, it will present several methodologies to calculate the product process capability with weighted arithmetic mean technique so that we can see how each characteristic effect on the product process.
机译:在某些制造装配中,包括Cp,Cpk,Cpu和Cpl的许多关于具有多种特性的过程能力指数的期刊论文。但是,所有这些都假定数据是正态分布的,并且没有示例芯片电阻器的产品级处理能力。本文将讨论样本均值和标准差对多种质量特性及其产品装配的过程能力指数的影响,而不是将模拟数据假设为正态分布。此外,本文还将介绍几种使用加权算术平均技术计算产品加工能力的方法,以便我们了解每个特性如何影响产品加工。

著录项

  • 作者

    Seo, Sujeong.;

  • 作者单位

    Rochester Institute of Technology.;

  • 授予单位 Rochester Institute of Technology.;
  • 学科 Statistics.;Applied physics.;Statistical physics.
  • 学位 M.S.
  • 年度 2017
  • 页码 41 p.
  • 总页数 41
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 公共建筑;
  • 关键词

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