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扩展的距离矩阵指数W*及其应用研究

         

摘要

重新定义了距离矩阵及距离矩阵拓扑指数W*,该定义考虑分子中每一原子的性质和成键情况以及分子中每一原子与所有其它原子的结合情况.拓扑指数W*对于饱和碳氢体系可还原为Wiener的距离矩阵指数W.同时,W*还可一般地应用于含多重键及杂原子的有机体系和无机体系.本研究用W*相关的卤代甲烷标准生成焓、SiXn(X=F,Cl,Br,I,n=1~4)体系的标准生成焓,相关系数均在0.99以上,置信度大于99.9%.并用W*研究了含苯环的碳氢体系气相色谱保留指数,含氧原子的醛酮体系的标准生成焓以及卤代苯体系的辛醇/水分配系数.对饱和碳氢体系,W为W*的特殊形式.

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