首页> 中文期刊> 《电子学报》 >Mask测试系统的理论与实验研究

Mask测试系统的理论与实验研究

         

摘要

本文阐述了关于模场直径(m.f.d)的Petermann第二定义的优越性,介绍了由这一定义建立的远场掩膜测试系统;考虑到掩膜板各部分的实际透过率,修正了国外文献中m.f.d的计算公式,可以迅速、方便、准确地测定1.3μm和1.55μm处单模光纤的m.f.d。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号