非接触型光外差轮廓仪

尤政; 李柱

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本文介绍一种纳米级非接触型高精度光外差轮廓仪,它是基于普通光路的光外差干涉仪。工件表面被两束有微小频差的激光束所照射,其中一束经聚焦后用作测量光探针来扫描工件表面,另一束则用作参考光束。两束光经表面反射后产生干涉。测量信号和参考信号的相位差与表面的微不平值成正比。仪器的横向分辨率为2μm,高度分辨率为1 nm,它不需要对试样作大范围的调整,且可用试样自身作参考面。信号经光电转换后由微型计算机进行处理,它能快速完成测量、计算、显示及打印出各种参数和曲线。

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来源
《计量学报》 |1993年第3期|177-182|共6页
作者
尤政; 李柱;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类表面光洁度（表面粗糙度）的测量及其量仪;
关键词
非接触; 光外差; 表面精糙度; 轮廓仪;

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