全反射红外逐层检测含重氮高分子薄膜的生长

廖玮; 魏芳; 曹维孝; 赵新生

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全反射红外逐层检测含重氮高分子薄膜的生长

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运用全反射红外技术对逐层组装的含重氮高分子薄膜进行了分步定量分析.利用-CH2-峰的逐层变化规律,确认了在组装过程中每层吸附高分子的量是一致的.通过重氮基-N≡N+特征的吸收峰,定量计算了在特定实验条件下,-N≡N+分解生成共价键的比例.这些结果为认识重氮高分子薄膜的生长提供了更为直接和细致的信息.

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来源
《物理化学学报》 |2004年第4期|405-408|共4页
作者
廖玮; 魏芳; 曹维孝; 赵新生;
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作者单位

北京大学分子动态与稳态结构国家重点实验室;

化学与分子工程学院化学生物学系;

北京大学分子动态与稳态结构国家重点实验室;

化学与分子工程学院化学生物学系;

化学与分子工程学院高分子科学与工程系,北京,100871;

北京大学分子动态与稳态结构国家重点实验室;

化学与分子工程学院化学生物学系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类表面现象的物理化学;
关键词
全反射红外; 高分子; 重氮; 薄膜; 硅;

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