基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法研究

钱斌; 郭国强; 邱磊; 王福伟; 金露; 伏燕军

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基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法研究

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摘要

为改善用机器视觉对圆孔参数测量结果,减小误差,在利用圆形标定板标定像素当量的基础上,对一种基于亚像素边缘检测的高精度圆孔参数测量方法进行了研究。用改进的Zernike矩亚像素边缘检测方法对边缘点作进一步的细化和筛选,用7×7模板替代原5×5模板,设计新阈值判断标准检测亚像素边缘,再对检测到的边缘点偏离像素进行抑制以获得更精确的图像边缘点;用最小二乘法进行圆形拟合获得圆形参数。给出了改进算法的基本步骤。用实验讨论了在自然光条件下,相机曝光亮度,以及相机与被测物体距离对测量结果的影响。结果表明:改进的方法对环境适应性强,易实现,曝光亮度30~50时测量精度较好;相机与物体距离50~60cm时,测量精度可达0.02mm。该法在高精度的工业检测中有广泛的应用前景。

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来源
《上海航天(中英文)》 |2017年第6期|126-132|共7页
作者
钱斌; 郭国强; 邱磊; 王福伟; 金露; 伏燕军;
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作者单位

南昌航空大学无损检测技术教育部重点实验室;

上海航天精密机械研究所;

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正文语种 chi
中图分类 TP391.41;
关键词
圆孔参数测量; Zernike正交矩; 亚像素边缘检测; 最小二乘拟合; 标定板; 像素当量; 曝光亮度; 边缘点;

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