IO卡件自动测试系统的设计与实现

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IO卡件自动测试系统的设计与实现

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阐述一种自动测试系统的框架,该系统框架采用分层结构和模块化,结合IO卡件的测试流程及现有生产技术条件,实现一种可用于IO卡件烧录测试的自动化测试系统。测试系统包含控制软件、信号源测试机箱及相关部件,可配套离线版测试工装或自动化产线使用,实现对待测单板开展烧录、校准和功能测试以及待测成品的完整功能测试。该测试系统的部署实施可以提高生产测试效率,完成重复性劳动的自动化处理,并可同步生成测试报告,实现生产测试数据档案的电子化,从而使企业规模化生产的管理水平和管理质量得到提升。

著录项

来源
《集成电路应用》 |2023年第3期|31-33|共3页
作者
杭哲;
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作者单位

南京科远智慧科技集团股份有限公司;

南京磐控微型电网技术有限公司;

江苏省热工过程智能控制重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微处理机;调整、测试;
关键词
自动测试系统; 信号源; 制造执行系统MES;

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