使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

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时间可控发射方法（TRE）是一种常用的非入侵式波形测量方法，它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形。完美的TRE系统能提供很高的带宽（〉5GHz），很好的探测尺寸精度（0．25微米），而且能显示芯片内部所有节点的波形。TRE波形一般用于探测不正确的信号电平，电路竞争和冒险问题以及几皮秒的高精度时序错误。

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《集成电路应用》 |2006年第7期|45-46|共2页
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科利登系统有限公司;
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