基于电路分割的低功耗扫描测试

仇健乐; 王世明; 郭筝

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本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法.该思想主要是将原始电路分成不同的几部分,每个部分能够单独进行扫描测试,通过减少同时被测的扫描寄存器的数量来达到降低测试功耗的目的.实验证明该方法使得扫描测试中的峰值功耗降低了60%,并且通过在电路中加入适当的wrapper结构,有效地解决了由于电路分割造成的故障覆盖率损失.

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来源
《集成电路应用》 |2005年第5期|52-55|共4页
作者
仇健乐; 王世明; 郭筝;
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作者单位

上海交通大学电子工程系,200030;

上海交通大学电子工程系,200030;

上海交通大学电子工程系,200030;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类
关键词
可测性设计; 低功耗扫描测试; 故障覆盖率; 电路分割;

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