一种TDD-LTE随机接入检测算法

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• 来源
  《计算机应用研究》 |2010年第11期|4245-4247|共3页
• 作者

  蒋友邦; 李广军; 杨海芬;

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• 作者单位

  电子科技大学;

  无线通信与嵌入式系统实验室;

  成都;

  611731;

  电子科技大学;

  无线通信与嵌入式系统实验室;

  成都;

  611731;

  电子科技大学;

  无线通信与嵌入式系统实验室;

  成都;

  611731;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 TN929;
• 关键词

  长期演进; 随机接入; 检测; 欠采样; 抗混叠;