基于热电离质谱的单微粒铀同位素分析方法比较

王凡; 陈彦; 张燕; 姜小燕; 赵永刚; 鹿捷; 徐常昆; 王琛

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基于热电离质谱的单微粒铀同位素分析方法比较

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在核保障中,测定擦拭样品单微粒中铀同位素比可为探测未申报或隐匿的核活动提供重要的信息。裂变径迹-热电离质谱(FT-TIMS)是该领域中的主流技术之一,近年来提出了一种新技术——扫描电子显微镜-热电离质谱(SEM-TIMS)。本文通过对标准微粒样品的测定系统评估比较了该两种方法。该两种方法的测量结果均与标准微粒的参考值吻合较好,FT-TIMS易于寻找、定位易裂变核素,对高浓铀具有极高的灵敏度。SEM-TIMS则更易于同步开展含铀微粒形貌学和元素组成等分析,可视作FT-TIMS有益的补充。

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来源
《原子能科学技术》|2022年第3期|585-590|共6页
作者
王凡; 陈彦; 张燕; 姜小燕; 赵永刚; 鹿捷; 徐常昆; 王琛;
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作者单位

中国原子能科学研究院;

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正文语种 chi
中图分类谱仪;
关键词
含铀微粒; 同位素比; 裂变径迹; 扫描电子显微镜; 热电离质谱; 微操作;

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