微机在X射线测厚仪中的应用

阎子明

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微机在X射线测厚仪中的应用

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一、测厚原理X射线测厚仪是利用X射线管发射的X射线I。穿透被测板后与其发生相互作用,一部分X射线被吸收和散射,另一部分X射线I透过被测板后照射在检测头上。经检测头中电离室电离后变成微弱电流,再经放大滤波后输入给微机。微机将数据进行处理后,加上各种补偿值,算出被测板当时的厚度,输出显示。同时与给定厚度值进行比较,产生厚度差值,以模拟量输出。一方面给记录仪表,将这个厚度差值描绘出来;另一方面,将这个厚度差值以模拟量方式送给上位计算机,进行厚度调节。这就是整个测厚过程的原理。如图1所示。

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来源
《自动化与仪表》 |1987年第3期|P.19-21|共3页
作者
阎子明;
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作者单位

天津电气传动研究所;

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正文语种 chi
中图分类 G6;
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