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基于光栅尺与PLC的全闭环精密定位测控系统辨向电路设计

         

摘要

为解决现有数控设备上的开环或半闭环伺服系统加工出现丢步或由于机械装置的误差使定位精度不足问题,设计了基于光栅尺和PLC构成的全闭环位移测控系统.该系统采用光栅尺将测量到的平台位移量反馈给PLC,来实现伺服系统的精度测试.给出了详细的光栅尺输出辨向电路原理图.

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