低成本VLSI时延测试策略的探讨

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• 来源
  《中国集成电路》 |2004年第9期|57-60|共4页
• 作者

  代建玮; 夏宇闻; 杨振;

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• 作者单位

  北京航空航天大学,电子信息工程学院;

  北京航空航天大学,电子信息工程学院;

  湖南大学,应用物理系;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 半导体集成电路（固体电路）;
• 关键词

  时延测试; VLSI; 低成本; 策略; 实际;