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应用于70nm及其以下的光刻技术的光刻胶制程控制

         

摘要

目前,ULSI 器件的设计规则接近70nm,并且需要高精密 CD 的控制,由于 F_2/157nm 曝光工具和光刻胶材料的开发滞后,ArF 光刻微影技术被认为是最有希望用于70nm 器件的技术。在此100nm

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