SoC设计到生产的测试流程可以减少测试成本与量产时间

著录项

• 来源
  《中国集成电路》 |2002年第12期|P.48-50|共3页
• 作者

  SteveJennings1; 许伟达2;

  展开▼
• 作者单位

  [1]Credence Systems Corporation;

  [2]Credence Systems Corporation;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 电子工业;
• 关键词

  测试流程; 测试复杂性; 测试程序; 制造商; 测试平台; 工程师; 设计开发; 验证测试系统; 测试工程; 器件;