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芯片性能; 绝缘体; IBM; 工艺; 材料配方; IEEE; 美国硅谷; 可靠度;
机译:低功率芯片级工艺变化和温度监控器,用于深亚微米CMOS的良率分析和优化
机译:借助工艺参数运行时间估计和本体偏置主动控制,用于数字CMOS电路设计的新型良率优化技术
机译:具有冗余和部分合格产品的VLSI存储器芯片生产率优化的良率模型
机译:通过在先进技术节点制造的系统IC的设计中模式替换来降低与工艺相关的良率风险
机译:深亚微米器件良率的工艺设计。
机译:使用混合热装配技术的热塑性纳米流体器件的高工艺良率
机译:低功耗芯片级工艺变化和温度监控器,用于深亚微米CMOS的良率分析和优化
机译:mImIC CaD应用的射频性能灵敏度和工艺良率模型.mImIC程序。第3阶段
机译:通过考虑系统性和随机的芯片内工艺变化来预测IC的制造良率
机译:有效地提高每个晶片具有存储量的良芯片的良率的各种方法和装置
机译:分析芯片均值变化和独立芯片内变化以决定芯片良率
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