电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究

孙志旺; 梁玉英; 潘刚; 张国龙; 李伟

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电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究

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摘要

为探究电冲击对电子装备寿命的影响,选取电源通断瞬间产生的高压为电冲击加速应力,并以雷达某系统功能电路板为研究对象,开展电应力加速退化试验.通过对试验数据的统计分析,得到基于性能退化轨迹的伪失效寿命,并在Weibull分布条件下进行参数估计,提出基于电应力的电源开关通断电加速模型,并实现对某型雷达功能电路板的可靠性评估.

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来源
《中国测试》 |2014年第5期|140-144|共5页
作者
孙志旺; 梁玉英; 潘刚; 张国龙; 李伟;
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作者单位

军械工程学院电子与光学工程系,河北石家庄050003;

军械工程学院电子与光学工程系,河北石家庄050003;

军械工程学院电子与光学工程系,河北石家庄050003;

军械工程学院电子与光学工程系,河北石家庄050003;

军械工程学院电子与光学工程系,河北石家庄050003;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类可靠性理论;高电压及大电流的组合同步装置;故障预测、诊断与排除;雷达;
关键词
电冲击; 加速退化试验; 伪失效寿命; 可靠性评估;

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