SiO2载纳米银抗菌粉体的制备及性能

陈晓丽; 魏丽乔

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SiO2载纳米银抗菌粉体的制备及性能

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利用化学还原法制备SiO2载纳米银复合抗菌粉体(Ag-SiO2),研究制备过程中Ag+浓度对Ag-SiO2抗菌粉体的性能及色泽的影响;采用扫描电镜、能谱分析、X射线光谱分析以及透射电镜对Ag-SiO2抗菌粉体的结构进行分析,并利用抑菌环法和最小抑菌浓度法测试其抗菌性能.结果表明,银粒子主要以纳米还原态存在,平均粒径为30 nm左右;Ag+浓度越大,抗菌性能越好,但是同时抗菌剂色泽越深;银的最小抑菌浓度(质量浓度)为94 mg/L.

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来源
《中国粉体技术》 |2013年第6期|54-57|共4页
作者
陈晓丽; 魏丽乔;
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作者单位

太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室,山西太原030024;

太原理工大学材料科学与工程学院,山西太原030024;

太原理工大学新材料界面科学与工程教育部和山西省重点实验室,山西太原030024;

太原理工大学材料科学与工程学院,山西太原030024;

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正文语种 chi
中图分类金属元素的无机化合物化学工业;
关键词
化学还原法; 纳米粒子; 抗菌性能;

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