基于专利交互影响分析的纳米技术发展模式国际比较

马荣康; 刘凤朝

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本文采用基于专利的交互影响分析(patent-based cross impact analysis)方法,根据专利的IPC分类(国际专利分类)及其所属技术领域信息,构建识别不同纳米技术领域交互影响模式的分析框架；利用美国专利和商标局(USPTO)专利数据,对比分析了美国、日本、德国与韩国的纳米技术发展模式,并通过探讨中国纳米技术的发展现状,提出中国纳米技术实现跨越式发展的政策启示.

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来源
《中国软科学》 |2012年第12期|49-58|共10页
作者
马荣康; 刘凤朝;
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作者单位

大连理工大学管理与经济学部;

辽宁大连116024;

大连理工大学管理与经济学部;

辽宁大连116024;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类科学技术管理;
关键词
专利; 交互影响分析; 纳米技术; 发展模式; 国际比较;

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