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溅射时间对铝掺氧化锌(ZAO)薄膜性能的影响

         

摘要

运用射频磁控溅射技术,改变溅射的时间获得不同厚度的ZAO薄膜,采用X射线衍射仪、AFM对薄膜微结构和电学性能进行表征,结果发现,电阻率会随着厚度增加而下降,但其后超过600nm以后下降并不明显.

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