首页> 中文期刊> 《电子器件》 >不同厚度PZT薄膜的制备及电性能特性研究

不同厚度PZT薄膜的制备及电性能特性研究

         

摘要

采用sol-gel(溶胶-凝胶)法在Pt/Ti/SiO2/Si基底上分别制备了厚度为400 nm、600 nm、800 nm的PZT(锆钛酸铅,Zr/Ti=52/48)薄膜,研究了厚度对薄膜介电性能与铁电性能的影响。通过对薄膜的铁电性能与介电性能进行测试,分析了不同厚度薄膜的剩余极化强度、介电常数与介电损耗,进一步分析了薄膜的介电调谐性能。实验结果表明,薄膜的介电常数与介电损耗随薄膜厚度的增大而增加;厚度为600 nm的薄膜具有最好的介电调谐性能与铁电性能。%PZT(Lead Zirconate Titanate,Zr/Ti=52/48)thin films with a thickness of 400 nm,600 nm and 800 nm were prepared by sol-gel method on Pt/Ti/SiO2/Si substrates,the electrical properties and ferroelectric properties of the PZT thin films with different thickness was researched. We tested the dielectric properties and ferroelectric properties and analyzed the remnant polarization,dielectric constant and dielectric loss of the PZT thin films with different thickness and further analyzed the dielectric tunable properties of thin films. The experimental results showed that the dielectric constant and dielectric loss increase with the increase of film thickness ,and the thickness of 600 nm film has the best dielectric tunable properties of ferroelectric properties.

著录项

  • 来源
    《电子器件》 |2016年第5期|1034-1036|共3页
  • 作者

    宋瑞佳; 郑俊华; 谭秋林;

  • 作者单位

    中北大学电子测试技术国家重点实验室;

    太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室;

    太原030051;

    中北大学电子测试技术国家重点实验室;

    太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室;

    太原030051;

    中北大学电子测试技术国家重点实验室;

    太原030051;

    中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室;

    太原030051;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 粉末的制造方法;压电陶瓷材料;
  • 关键词

    铁电薄膜; PZT薄膜; 溶胶-凝胶; 介电性; 铁电性;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号