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王伟; 孙建平; 徐丽娜; 顾宁;
东南大学与生物电子学教育部重点实验室江苏省生物材料和器件重点实验室,南京,210096;
南京邮电大学光电工程学院,210003;
美国密西根大学电气工程和计算机科学系;
高k; 栅电流; 量子模型; MOSFET;
机译:掺Dy的$ hbox {HfO} _ {2} $栅氧化物n-MOS器件的栅极漏电流和电荷陷阱特性降低
机译:考虑浮体效应的40 nm PD SOI NMOS器件的栅隧穿漏电流行为
机译:具有超薄栅极氧化物的NMOS器件的封闭式分区栅隧穿电流模型
机译:考虑栅隧穿漏电流的HfO2高K栅介质纳米FD SOI CMOS器件的电容行为
机译:纳米级双栅CMOS器件和技术的建模和优化设计。
机译:用于高级CMOS器件的铝酸镧高介电常数栅氧化物的综合研究
机译:考虑参数变化影响的纳米级CmOs器件总漏电流建模与估算
机译:在恶劣环境中的双栅sOI / mOs器件和电路
机译:集成原子层沉积工艺和置换栅结构的纳米片CMOS器件的制造方法
机译:硅纳米线和全栅MOS器件的制造
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