离子色谱在元器件腐蚀失效分析中的应用研究

石延辉; 蔡金宝; 甘卿忠; 何胜宗; 牛峥

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离子色谱在元器件腐蚀失效分析中的应用研究

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电子元器件在应用过程中经常出现污染腐蚀失效。因此,查找引起失效的污染和腐蚀源是分析技术的关键。通过几种不同类别电子产品失效分析案例,研究了离子色谱检测在板面残留、工艺辅料、产品包封料、环境异物中污染腐蚀源的检验和分析方法,并与传统的形貌观察、绝缘阻抗测试、EDS成分分析、红外光谱分析的结果进行综合对比和验证。明确了离子色谱检验方法在电子元器件腐蚀失效分析中的应用场景、取样方法和结果分析方法,为离子色谱在电子元器件腐蚀失效预防中的工程应用提供指导和借鉴。

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来源
《电子器件》 |2022年第1期|13-18|共6页
作者
石延辉; 蔡金宝; 甘卿忠; 何胜宗; 牛峥;
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作者单位

中国南方电网有限责任公司超高压输电公司广州局;

工业和信息化部电子第五研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
电子元器件; 离子色谱; 腐蚀; 离子污染; 失效分析;

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