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测量非辐射能从荧光分子到介电界面的传输

         

摘要

我们测量了被Al2O3隔离怪与Ag,In2O3和SnO2表面分隔开的噻吩甲酰三氟丙酮铕分子的芝光强度。实验结果显示当隔离层厚度为1-10nm时,由于非辐射能从发射中心Eu3+离了传输入介电界面,荧光强度随隔离层厚度减少按指数式减弱。

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