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用MOVPE方法外延生长Si掺杂的立方相GaN(英文)

         

摘要

用MOVPE方法采取一种两步生长过程生长了未掺杂和Si掺杂的GaN。在生长了一个 2 0nm厚的缓冲层后 ,外延生长了 1 μm厚的立方GaN外延层。利用二次离子质谱测定了掺杂的程度。

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