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光电测试系统的性能分析

         

摘要

文章从理论上分析、计算由近红外光电传感器、前置放大电路和采集卡组成的光电测试系统的精度指标.结果表明,系统的绝对误差为6.68 mV;温度和噪声等引起的相对误差为3.26 mV;此外,采集卡的A/D转换宽度也影响着整个系统的精度.文章分析的方法为类似测试系统的性能分析提供了一般方法.

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