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开放式电阻抗断层成像测量系统设计与成像试验研究

         

摘要

目的:研制一种基于开放式电阻成像的高精度测量系统,用于物理模型试验研究.为临床试验奠定基础.方法:开放式电阻抗成像(OEIT)采用固定电极阵列,克服了封闭式电阻抗成像(CElT)在应用上电极间隔不等、放置不方便等问题;测量系统采用直接数字频率合成(DDS)产生激励信号,采用FPGA与ADC实现数字相敏检波.检测出电极问的正弦电压幅值与相位,经成像算法得到试验图像.结果:该测量系统的信噪比达104 dB.在300mS/m背景电导率情况下,可区分电导率分别为400mS/m和200mS/m的双目标.结论:该测量系统满足开放式电阻抗成像对测量信噪比的要求,水槽和琼脂物理模型的双目标成像试验结果表明,OEIT具有较好的分辨率和定位准确度.可以应用于区分低电导率差异的组织.

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