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阴离子间隙与新生儿缺氧缺血性脑病严重程度的相关性分析

         

摘要

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是新生儿常见病之一,是由各种围生期因素引起的,临床表现多样,常因缺氧导致内环境紊乱,加重病情影响预后,我院自2005年12月至2006年2月对收治的45例HIE新生儿血气、电解质结果进行分析,发现阴离子间隙(AG)与HIE严重程度有一定的相关性,现报告如下.

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