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纳米器件中的1/f噪声分析及其低噪声化处理

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摘要

阐述了纳米电子器件中1/f噪声的产生机理,分析了单电子晶体管1/f噪声产生的各种原因,并用介观效应的原理,揭示出宏观样品中产生1/f噪声的实质.最后,得出一种针对纳米单电子器件低噪声化处理的方法.

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来源
《重庆高教研究》 |2010年第1期|50-52+60|共3页
作者
易鸿;
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作者单位

四川文理学院物理与工程技术系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TB535.2;
关键词
纳米器件; 介观系统; 1/f噪声;

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