基于改进Radon变换的芯片几何特征检测

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• 来源
  《计算机工程》 |2008年第10期|210-211240|共3页
• 作者

  孔华锋; 鲁宏伟; 胡东红;

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• 作者单位

  华中科技大学计算机科学与技术学院;

  武汉;

  430074;

  华中科技大学图像识别与人工智能研究所;

  武汉;

  430074;

  华中科技大学计算机科学与技术学院;

  武汉;

  430074;

  湖北大学物理学与电子技术学院;

  武汉;

  430062;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 模式识别与装置;
• 关键词

  Radon变换; 直线检测; 图像处理; 模式识别;