应用于逻辑核的BIST关键技术研究

李吉; 徐勇军; 韩银和; 李晓维

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应用于逻辑核的BIST关键技术研究

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随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后,电路复杂度的不断提高,特别是片上系统的不断发展,主要包括验证测试和制造测试的芯片测试,正在面临着巨大的挑战,传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要.各种用于提高芯片可测试性的可测性设计方法被提出,其中逻辑内建自测试方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法.文章首先对Logic BIST的基本原理结构进行介绍,然后对其在实践应用中的一些难点问题进行详细分析,最后给出针对一款高性能通用处理器实验的结果.

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来源
《计算机工程》 |2005年第23期|55-57|共3页
作者
李吉; 徐勇军; 韩银和; 李晓维;
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作者单位

中国科学院计算技术研究所;

北京;

100080;

中国科学院研究生院;

北京100039;

中国科学院计算技术研究所;

北京;

100080;

中国科学院研究生院;

北京100039;

中国科学院计算技术研究所;

北京;

100080;

中国科学院研究生院;

北京100039;

中国科学院计算技术研究所;

北京;

100080;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP391.76;
关键词
可测性设计; 逻辑内建自测试; 测试点插入;

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