带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

雷加; 李坤

首页> 中文期刊> 《计算机测量与控制》 >带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

在混装电路中,由不同的非边界扫描器件所组成的簇所需要的测试向量的数目可能是不同的,根据不同的簇所需要的测试向量的不同,可以将整个测试过程分为不同的测试阶段,每个测试阶段过后都会有一个或者多个扫描芯片处于bypass状态,而此时其长度只有1,也就是说每一个扫描链的长度是随着测试矢量的移出而变化的,整个扫描链的配置过程中,需要考虑这样两个问题:如何将扫描芯片分配给各条扫描链以及如何排列各条扫描链中扫描芯片的顺序,提出了一种如何配置单链的方法,即优化配置扫描芯片在扫描链中的顺序,这种方法同样可以被应用到多链.

著录项

来源
《计算机测量与控制》 |2006年第8期|984-986|共3页
作者
雷加; 李坤;
展开▼
作者单位

桂林电子工业学院;

电子工程系;

广西;

桂林;

541004;

桂林电子工业学院;

电子工程系;

广西;

桂林;

541004;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动化技术在各方面的应用;
关键词
混装电路; 边界扫描; 链簇测试;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置 [J] . 刘冠军 ,温熙森 ,曾芷德 . 计算机辅助设计与图形学学报 . 2000,第010期
2. 基于边界扫描的混装电路板测试技术研究 [J] . 蔡士闯 ,王学伟 ,王成刚 . 舰船电子工程 . 2011,第007期
3. 板级边界扫描测试多链优化配置方法研究 [J] . 高华 ,陈圣俭 ,李广进 . 计算机测量与控制 . 2012,第010期
4. 基于Scan Works的含边界扫描器件电路板的测试方法研究 [J] . 孙丽平 . 电子世界 . 2016,第010期
5. 用边界扫描技术检测非边扫器件 [J] . 陈岩申 ,张波 ,李艳青 . 舰船电子工程 . 2012,第011期
6. 一种多核微处理器的边界扫描链电路设计 [C] . 倪铭 ,余金山 ,马驰远 . 第十八届计算机工程与工艺年会暨第四届微处理器技术论坛 . 2014
7. 复杂数字电路板的边界扫描测试系统设计与实现 [A] . 昌磊 . 2019

带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅