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黄正峰; 钱栋良; 彭小飞; 欧阳一鸣; 易茂祥; 方祥圣;
合肥工业大学电子科学与应用物理学院;
合肥230009;
合肥工业大学计算机与信息学院;
加固锁存器; 瞬态故障; 单粒子翻转; 软错误; 门控时钟电路;
机译:高性能SEU耐压锁存器
机译:低功耗触发器,主锁存器和从锁存器具有时钟门控
机译:高性能和低功耗系统的主从锁存器和触发器的比较分析
机译:高度可靠的SEU硬化锁存器和高性能SEU硬化触发器
机译:低功耗高速低偏移完全动态CMOS锁存器
机译:0.18 µm CMOS工艺中的高速,低偏移动态锁存比较器的设计
机译:使用动态锁存比较器技术,低功耗和高速4位闪光模拟到数字转换器
机译:sa3300微处理器中的设计和电阻硬化D锁存器的sEU响应。
机译:具有数据通知设置和保持时间的高性能和低功耗TSPC锁存器
机译:高性能,低功耗,动态锁存的向上/向下计数器
机译:高性能,低功耗,动态锁存的递增/递减计数器
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