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基于多分层的OS-CFAR+SWD性能分析

         

摘要

对基于多分层处理的有序统计量恒虚警级联滑窗检测(OS-CFAR+SWD)处理器模型进行了理论推导和性能分析,给出了该模型归一化后单次脉冲过门限检测、多电平比较编码、多分层滑窗检测三级输出的虚警概率与检测概率公式及其仿真计算结果,为多分层OS-CFAR+SWD处理器的优化设计和实际应用提供了必要的理论依据。

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