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电子与固体相互作用的Monte Carlo模拟

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本文提出了一个描述电子与固体相互作用的物理模型及Monte Carlo模拟方法。其计算结果较为简单,对背散射系数、透射系数及x射线深度分布函数的计算结果与文献报道的实验结果相符。本模型己成功地应用于薄膜、微颗粒体x射线定量分析的工作中。

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来源
《计算物理》 |1985年第1期|17-23|共7页
作者
何延才;
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作者单位

中国科学院上海硅酸盐研究所;

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正文语种 chi
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