指数部件串联系统寿命的预测区间

陈明辉; 印凡成

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本文根据预测区间的基本原理,讨论了指数部件串联系统寿命的预测区间。我们用各部件试验数据,借助于Sarkor,Kraemer,Ross 求指数分布串联系统可靠度置信下限的基本方法,给出了串联系统寿命预测置信区间的Sarkor 限,Kraem-er 限和Ross 限。用Bayes 方法得到了串联系统寿命的Bayes 预测限。

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来源
《上海交通大学学报》 |1987年第2期|49-54129|共6页
作者
陈明辉; 印凡成;
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作者单位

上海交通大学应用数学系;

上海交通大学应用数学系;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
预测区间; 串联系统寿命; Ⅱ型截尾寿命试验;

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