20Mn2TiB钢渗碳层中残余奥氏体分布的X射线测定

孟昭富; 孟赞群

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20Mn2TiB钢渗碳层中残余奥氏体分布的X射线测定

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＜正＞一、前言残余奥氏体在渗层中的数量和分布对渗碳件的性能有很大影响,并且有许多问題到目前为止尚未搞清楚,因而引起广泛地研究。我们在对碳氮共渗层中残余奥氏体的分布和数量的研究基础上,进一步对渗碳层中的残余奥氏体的数量和分布进行了研究。由于测试设备和技术的改进,使测量的灵敏度和精确度比以前大大提高。本文就是采用日本理学生产的12千瓦旋转阳极大功率衍射仪,结合X射线积分强度的自动测量,进行残余奥氏体数量和分布研究的。

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来源
《材料保护》 |1985年第2期|25-27|共3页
作者
孟昭富; 孟赞群;
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作者单位

吉林大学金属物理教研室;

长春第一汽车制造厂热处理分厂讲师;

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