一种用刷新技术实现SRAM抗SEU错误累积的方法

陈庆宇; 吴龙胜; 郝奎; 艾刁

首页> 中文期刊> 《微电子学与计算机》 >一种用刷新技术实现SRAM抗SEU错误累积的方法

一种用刷新技术实现SRAM抗SEU错误累积的方法

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

为了防止空间应用SRAM出现SEU错误累积,提出了一种优化的读→校验→回写刷新机制.该机制实时监测处理器状态,当处理器对外部主存进行读操作时,由存储器控制器自主地(即不需处理器干预)对读操作的存储单元进行刷新操作;当处理器进行访问外部主存以外的其他操作时,由存储器控制器自主的对所有的存储单元进行遍历式刷新操作,该机制可以避免长时间未被读的存储单元发生SEU错误的累积,保证SRAM单元中发生错误的比特位数小于校验码的纠检错能力.最后,通过向SRAM随机注错的方法对本机制的存储器控制器进行验证,结果表明存储器控制器满足设计要求.

著录项

来源
《微电子学与计算机》 |2014年第7期|113-117|共5页
作者
陈庆宇; 吴龙胜; 郝奎; 艾刁;
展开▼
作者单位

西安微电子技术研究所;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类存贮器;
关键词
空间应用; SRAM; 存储器控制器; 刷新; 单粒子翻转;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. SRAM型FPGA的抗SEU方法研究 [J] . 黄影 ,张春元 ,刘东 . 中国空间科学技术 . 2007,第004期
2. 基于SRAM的FPGA抗SEU加固技术分析研究 [J] . 陈江璋 . 价值工程 . 2012,第033期
3. 一种SRAM型FPGA抗软错误物理设计方法 [J] . 赵磊 ,王祖林 ,郭旭静 . 电子与信息学报 . 2013,第004期
4. 抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究 [J] . 祝周荣 ,姜丽梅 ,刘国斌 . 数字技术与应用 . 2018,第002期
5. 抗SEU动态刷新FPGA的仿真验证技术研究 [J] . 祝周荣1 ,姜丽梅1 ,刘国斌1 . 数字技术与应用 . 2018,第002期
6. 一种新的SRAM型胚胎电子细胞SEU自检结构 [C] . LI Dan-Yang ,李丹阳 ,CAI Jin-Yan . 中国物理学会第二十届全国静电学术会议 . 2015
7. SRAM抗SEU加固单元设计与ECC编码实现 [A] . 张颖 . 2015

一种用刷新技术实现SRAM抗SEU错误累积的方法

摘要

著录项

相似文献

相关主题

期刊订阅