基于SRAM型FPGA测试技术的研究

孙立波; 雷加

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基于SRAM型FPGA测试技术的研究

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随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要。为了保证数字系统工作的稳定性,首先就要保证FPGA芯片的可靠性。从SRAM型FPGA的内部构造入手,对测试生成和测试故障模型关键技术进行了探讨和研究,解决了测试的故障覆盖率和测试速度之间的矛盾;并搭建了软硬件协同测试平台对测试理论进行了验证,该系统为FPGA芯片的稳定应用提供性能保障。

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来源
《国外电子测量技术》 |2011年第5期|36-40|共6页
作者
孙立波; 雷加;
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作者单位

桂林电子科技大学电子工程与自动化学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类基本电路;
关键词
FPGA测试; 故障覆盖率; 协同测试平台;

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