首页> 中文期刊> 《微电子学与计算机》 >pFlash故障测试算法

pFlash故障测试算法

         

摘要

Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33%,且故障覆盖率仍然为100%.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号