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电子产品质量问题的最佳解决方案——数字集成电路参数测试

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一般数字逻辑用“1”、“0”来表示高、低电平。这在所谓“功能测试仪”中不能得到定量的分析：

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《国外电子测量技术》 |2005年第7期|52-52|共1页
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正文语种 chi
中图分类数字集成电路、逻辑集成电路;
关键词
数字集成电路; 产品质量问题; 参数测试; 解决方案; 最佳; 电子; 功能测试仪; 数字逻辑; 低电平;

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